产品名称:

量子效率测量系统
量子效率测量系统

产品简介:

型号:QE-2000

品牌:Otsuka

描述:Otsuka QE-2000是一套快速、准确的量子效率测量系统,可以测量粉末、溶液和固体等材料的绝对量子效率,基本消除紫外杂散光的影响,此外,采用半球集成探测器,可实现高灵敏度且消除再激发功能,从而获得荧光粉的真正特性。


  • 产品概述
  • 主要特点
  • 选型指南

量子效率测量系统


型号:QE-2000

品牌:Otsuka

描述:Otsuka QE-2000是一套快速、准确的量子效率测量系统,可以测量粉末、溶液和固体等材料的绝对量子效率,基本消除紫外杂散光的影响,此外,采用半球集成探测器,可实现高灵敏度且消除再激发功能,从而获得荧光粉的真正特性。

量子效率测量系统


产品亮点: 

瞬间测得绝对量子效率(绝对量子产额)

除去激发荧光发光光谱

采用积分半球系统,实现高亮度测量

采用低杂散光多频分光检出器,大幅度减少紫外杂光

配套专用软件,操作简单

设计紧凑,节省空间

使用分光器类型的激发光源,可以选择任意波长

可以设定激发光源的波长和步长,实现自动测量

可测量粉剂、溶液、固体(薄膜)试料


应用范围: 

测量LED、有机EL用荧光体的量子效率

测量薄膜形状试料的透射荧光/反射荧光的量子效率

测量量子点、荧光探针、生物领域、包含化合物等的荧光

测量色素敏化太阳能电池的量子效率

测量络合物化合物

升级选项: 

光谱仪规格可选(3683C/311C/2580C/3095C)

自动取样器

样品固定治具(粉剂测量用/薄膜测量用)

分离型量子效率测试系统QE-2100


技术参数:

测量参数

光谱范围:360~830nm/360~1100nm/250~800nm/300~950nm

像素波长宽度:1.0nm/0.5nm

光接收像素通道数:512ch/1024ch

传感器类型:电子冷却式CCD图形传感器

数电分辨率:16 bit ADC

分光器光学配置:背底(flatfield)型 F=3, f=85.8mm

激发光源

光源:150W Xe灯

激发波长:250~800nm

带宽:FWHM 5nm/Slit 0.6nm

样品抗光降解:自动关闭装置

激发波长控制:自动控制

积分球:

材质:Spectralon(美国Labsphere)

尺寸:150mm半球(HalfMoon)

样品固定治具

粉剂测量固定治具:SUS304制,无石英盖

溶液测量固定治具(常温):石英制溶液容器(开放型)

功耗

电源电压:AC 100~120V/AC 200~230V

软件

量子效率(量子产额)测量

量子效率(量子产额)的激发波长依赖特性

反射光谱测量

PL激发光谱

EEM(Excitation Emission Matrix)显示

二次激发校正

发光光谱测量

透过/吸收光谱测量

颜色演算(色度、色温、显色指数等)


原理:

量子效率测量系统



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